Weijers H.W., Schwartz J., Zhang G., Wang X.(xiaorong@caps.fsu.edu), Caruso A.R.(caruso@magnet.fsu.edu), Breschi M.(marco.breschi@unibo.it), Trociewitz U.P.
Schwartz J., Zhang G., Nguyen D.N.(nguyen@caps.fsu.edu), Sastry P.V.P.S.S., Knoll D.C.
Schwartz J., Nguyen D.N.(nguyen@caps.fsu.edu), Sastry P.V.P.S.S., Zhang G.M., Knoll D.C.(knoll@caps.fsu.edu)
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, strain effects, ac losses, tensile tests, stress effects, mechanical properties, experimental results
Schwartz J., Lin L.Z., Yu Y.J., Xiao L.Y., Zhang G.M., Sastry P.V.P.S.S.(pamidi@caps.fsu.edu)
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, assembled conductors, ac losses, transport currents, angular dependence, experimental results
Haken B., Weijers H.W., Schwartz J., Kate H.H.J.(h.h.j.tenkate@tnw.utwente.nl)
Schwartz J., Lin L.Z., Yu Y.J., Xiao L.Y., Zhang G.M.(gzhang@caps.fsu.edu), Sastry P.V.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.